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杭州PCB抄板公司-緯亞電子:引 言
現(xiàn)代電子技術(shù)的高速發(fā)展對傳統(tǒng)的電路測試技術(shù)提出了新的挑戰(zhàn)。器件封裝的小型化、表面貼裝(smt)技術(shù)的應用,以及由于板器件密度的加大而出現(xiàn)的多層印制板技術(shù)使得電路節(jié)點的物理可訪問性逐步減低,原來借助于針床的在線測試(ICT)的局限性日益增大。電路和系統(tǒng)可測試性的急劇降低導致測試費用占電路和系統(tǒng)總費用的比重越來越高。人們已意識到,單靠改善測試方法來實現(xiàn)電路的測試及故障診斷是遠遠不夠的。要從根本上解決問題,提高電路的可觀測性和可控制性,在電路系統(tǒng)設(shè)計之初就要充分考慮測試及故障診斷的要求,即進行可測性設(shè)計(design-for-testability,DFT)?;贗EEE 1149.1標準(又被稱為JTAG協(xié)議)制定的邊界掃描技術(shù)是對DFT的一個飛躍發(fā)展。邊界掃描技術(shù)的應用使得電路板上需要的測試節(jié)點數(shù)目減少,用于測試夾具的費用減少,比傳統(tǒng)的ICT測試節(jié)省了時間,縮短了產(chǎn)品推向市場的周期。另外,邊界掃描也支持CPLD、FPGA和Flash的在線編程(ISP)。但是,在現(xiàn)實情況中,真正考慮到邊界掃描測試的電路設(shè)計并不普遍。本文以對一個目標板所作的測試工作為例,探討了在把邊界掃描機制引入電路設(shè)計的前提下,如何增加板級互連的故障診斷覆蓋率。
1 邊界掃描機制的引入 杭州PCB|杭州smt
邊界掃描技術(shù)的基本思想是在芯片管腳和內(nèi)部邏輯之間增加了串聯(lián)在一起的移位寄存器組,在邊界掃描測試模式下,寄存器單元在相應的指令下控制引腳狀態(tài),從而對外部互連及內(nèi)部邏輯進行測試。邊界掃描結(jié)構(gòu)定義了4個基本硬件單元:測試存取口(TAP)、TAP控制器、指令寄存器和測試數(shù)據(jù)寄存器組。其中,TAP一般包括4條測試總線:測試數(shù)據(jù)輸入總線(TDI)、測試數(shù)據(jù)輸出總線(TDO)、測試模式選擇總線(TMS)和測試時鐘輸入總線(TCK)。還有一個可選擇的測試復位輸入端(TRST*)。FAP控制器是邊界掃描的核心部分,整個測試邏輯都是由它按一定順序調(diào)用的。在測試時鐘TCK的作用下,從TDI加入的數(shù)據(jù)可以在移位寄存器鏈中移動進行掃描。
目標板是一個中央資源板子系統(tǒng),其結(jié)構(gòu)如圖1所示。主要作用是為數(shù)字通道子系統(tǒng)提供精確的時序信息,為數(shù)字通道板之間提供定時和控制信號,分析處理數(shù)字通道子系統(tǒng)和探筆子系統(tǒng)返回的數(shù)據(jù)。該電路板上有4個邊界掃描器件:EPLD(EPM7256AETC144)、FPGA(EP1S25F780)、Flash EPROM(EPC8)和DSP(TMS320C6203B)。
在電路設(shè)計時,引入邊界掃描結(jié)構(gòu)首要考慮的問題就是盡可能地選擇符合IEEE 1149.1標準的器件。目前大部分VLSI器件都帶邊界掃描結(jié)構(gòu),而對于小型芯片,在實現(xiàn)的功能相同的前提下,要盡量選用符合IEEE 1149.1標準的。
在此目標板上,我們將Flash EPROM(N30)、DSP(N31)、EPLD(N14)和FPGA(N24)依次連接起來,成為一個完整的掃描鏈路。TAP控制信號(TCK、TMS、TRST*)并聯(lián),前一器件的TDO和后一器件的TDI依次連接成鏈。其中只有DSP有TRST*信號。對于TRST*信號,因為它是低電平有效,若在器件內(nèi)部或者電路板上已經(jīng)上拉,則在測試時可以不加以控制。而在該目標板的DSP內(nèi)部此引腳處于下拉狀態(tài),為使其進人邊界掃描狀態(tài),必須外加激勵信號,因此本文把它單獨引出來。如圖2所示。
為保證信號的完整性,本文對來自測試裝置的主TAP控制信號進行了緩沖處理,同時用上拉電阻將TDI、TMS信號拉至邏輯1狀態(tài),將TCK下拉接地。另外,在后一個器件的TDO和被測板的TDO端口之間放置一個20 Ω的電阻以衰減反射。緩沖器類型的選用要參考電路板上器件的電平類型。如圖3所示,被測板上邊界掃描器件工作電壓為3.3 V,本文選用的緩沖器SN74LV244的工作電壓為2.7 V~5.5 V,可以滿足需要。
這樣做可以解決測試裝置和被測板之間的阻抗不匹配及提升TCK的速度,可增加測試裝置和被測板之間電纜的長度,也使得在測試裝置和被測板間的電纜沒有連接的情況下,功能模式和測試模式時信號可以保持安全狀態(tài)。
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來源:基于邊界掃描技術(shù)的電路板可測性設(shè)計分析本文《基于邊界掃描技術(shù)的電路板可測性設(shè)計分析》由昆山緯亞電子有限公司發(fā)布在分類[企業(yè)新聞],未經(jīng)許可,嚴禁轉(zhuǎn)載發(fā)布。
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